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2024-08-26

隨著集成電路和通信技術(shù)的高速發(fā)展,低介常數(shù)材料(Low-K)被廣泛的應(yīng)用,一般我們將K值<3的材料稱為低介電常數(shù)材料,但在新一代集成電路中,很多器件要求材料的K值<2.5,國(guó)際器件與系統(tǒng)藍(lán)圖(IRDS)還建議在2028年前,開發(fā)出K值<2的超低介電材料,材料損耗已經(jīng)接近甚至小于0.005。而傳統(tǒng)的介電常數(shù)(包括介電頻譜、溫譜),常見的測(cè)量方式諸如高頻Q表或采用阻抗分析儀都不太合適,測(cè)量誤差主要來自于測(cè)量夾具及導(dǎo)線的損耗以及測(cè)試樣品制備時(shí)的誤差。北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司推出的低...

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2024-08-22

簡(jiǎn)單了解下可一機(jī)多用,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展能力的絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)!絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美國(guó)ASTM標(biāo)準(zhǔn)。利用新穎的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過程的安全;資料保存機(jī)...

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2024-08-21

半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹:絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。利用新穎的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。針對(duì)絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì),測(cè)試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測(cè)試過程的安全;資料保存機(jī)制,當(dāng)遇到電腦異?;蛩矔r(shí)斷電時(shí),可將資料保存于控制器中,不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù),設(shè)備重新開啟后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。...

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2024-08-20

Huace鐵電分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進(jìn)行靈活配置,擴(kuò)展后又可實(shí)現(xiàn)哪些功能呢?HuaceFE-3000鐵電分析儀有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍,該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各類鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。采用模塊化設(shè)計(jì)的HuaceFE-3000具有強(qiáng)大擴(kuò)展性。在±200V的內(nèi)置電壓下,電滯回線測(cè)試頻率可高達(dá)270KHz。還可通過外接的功率放大模塊將電壓升到4kV或10kV。系統(tǒng)內(nèi)置HuacePro基本...

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2024-08-19

高溫四探針測(cè)試儀是一種用于測(cè)量材料電阻率的儀器,特別適用于在高溫環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。為了確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和儀器的穩(wěn)定性,需要正確安裝和使用。以下是一些建議:1、選擇合適型號(hào)的高溫四探針測(cè)試儀:根據(jù)被測(cè)材料的電阻率范圍、尺寸和形狀,以及測(cè)試環(huán)境的溫度要求,選擇合適的型號(hào)。2、準(zhǔn)備測(cè)試樣品:確保測(cè)試樣品表面平整、干凈,無(wú)油污、氧化層等雜質(zhì)。必要時(shí)可以使用砂紙或化學(xué)試劑對(duì)樣品表面進(jìn)行處理。3、安裝探針:將四個(gè)探針按照正確的順序安裝在探針架上,確保探針與被測(cè)樣品表面接觸良好。探針之間...

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2024-08-19

什么是半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)試系統(tǒng)?熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)(如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等)的微觀參數(shù),熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測(cè)量,即非等溫測(cè)量。由于材料(例如介電材料)中的荷電粒子的微觀參數(shù)(如活化能h、松弛時(shí)間τ等)不同,用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來,從而求出各自的參數(shù)。因?yàn)闊岽碳る娏髋c材料的這些參數(shù)(如h與τ)密切相關(guān),故它是一種研...

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2024-08-16

低壓漏電起痕試驗(yàn)儀簡(jiǎn)單介紹1.基本概述低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是一種用于評(píng)估絕緣材料在電氣環(huán)境中抗漏電起痕及蝕損性能的專用設(shè)備。該試驗(yàn)?zāi)M了電氣設(shè)備在運(yùn)行過程中可能遇到的高濕度、污染物以及持續(xù)低電壓下的電弧作用,通過對(duì)試樣的測(cè)試,評(píng)價(jià)其電氣絕緣性能和耐久性。2.應(yīng)用領(lǐng)域低壓漏電起痕試驗(yàn)儀廣泛應(yīng)用于各類電工電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制與安全認(rèn)證中,包括但不限于:家用電器、汽車電子、通信設(shè)備、建筑材料(如開關(guān)插座、斷路器外殼)、工業(yè)控制設(shè)備以及所有涉及電氣絕緣部件的產(chǎn)品。通過對(duì)材料的有效評(píng)估,確...

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